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日立场发射透射电子显微镜 HF-3300
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200kV场发射透射电子显微镜
仪器简介:对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM
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日立场发射扫描电子显微镜Regulus8200
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国产场发射透射电子显微镜
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Tecnai™ 透射电子显微镜
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界
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Talos透射电子显微镜
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品,致力于让用户迅速访问二维和三维数据,从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究,是一款融合了众多创新技术的
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Themis透射电子显微镜
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场发射透射电子显微镜 HF-3300
特色分辨率0.1 nm(晶体点阵)0.19 nm(点对点)0.13 nm(信息极限)放大倍数200倍 至 1,500,000倍加速电压300 kV, 200 kV*, 100
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HF-3300场发射透射电子显微镜
日立驰名的冷场发射电子源和300 kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术,空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效,高精度样品分析的新途径。
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